<section id="description">
<p>k дефектов распределены случайным образом среди n интегральных микросхем, производимых заводом (любое количество дефектов может быть найдено на чипе, и каждый дефект не зависит от других дефектов). </p><p> Пусть p (k, n) представляет вероятность того, что имеется чип с не менее чем тремя дефектами. Например, p (3,7) ≈ 0,0204081633. </p><p> Найдите p (20 000, 1 000 000) и дайте свой ответ округленным до десяти десятичных знаков в форме 0.abcdefghij </p>
</section>

function euler307() {
  // Good luck!
  return true;
}

euler307();


index

Задача 307: Дефекты чипов

Problem 307: Chip Defects

<code>euler307()</code> should return 0.7311720251.